由于静电放电（ESD）现象本身极为复杂，且测试设备存在难以避免的固有偏差，在对被测设备（EUT）施加放电测试时，其性能往往会呈现出多种变化。这些变化通常源于错误的测试水平差异，或是被测设备在测试进程中所展现出的错误类型不同。依据这些性能变化所出现的测试水平阶段，其结果很可能左右对被测设备是否通过测试的判定。

倘若被测设备（EUT）在性能方面呈现出差异，可依循以下步骤来精准确定差异的根源：

a) 全面核实测试设置：对测试的所有细节进行细致检查，其中涵盖每一根电缆的具体位置，以及受试设备自身的状态，例如盖子是否关闭、门的开合情况等。

b) 严格核实测试程序：包括明确设备待测单元（EUT）的操作模式，确认辅助设备的摆放位置与布局方式，考量操作人员所处位置是否符合规范，检查软件运行状态是否正常，以及审视对 EUT 施加放电操作的整个流程是否合规。

c) 严谨验证测试结果的差异是否由不同发生器的使用所导致：针对与安全相关的功能，产品委员会可依据实际情况决定是否采用升级策略，也可选择执行更为严格的升级策略。

升级策略：当所有测试条件，包含静电放电发生器等均保持一致的情况下，若被测设备（EUT）性能出现差异，应运用以下升级策略来判定 EUT 是否符合要求。此策略适用于在施加一组放电时，EUT 性能超出规定要求的每一个测试点。

首次测试已依照 8.3.2 条款，以既定的测试等级有序开展。若在测试过程中，被测设备（EUT）性能超出规定要求的情况不止一次出现，那么该测试结果便超出了产品委员会预先设定的可接受性能阈值。若在初始放电测试集中，EUT 性能超出规定要求的情况仅出现一次，则需按照下述步骤 2）展开进一步测试。

第二次测试应在该测试点进行，放电次数增加至规定测试要求的两倍。若在此次测试进程中，被测设备（EUT）性能超出规定要求的情况出现不止一次，测试结果超出产品委员会设定的可接受性能阈值。若在初始放电过程中，被测设备（EUT）性能超出规定要求的情况仅出现一次，则应按照以下步骤 3）继续深入测试。

第三次测试应在该测试点，以与步骤 2）相同的放电次数，严格按照规定的测试水平执行。若 EUT 的性能未超出规定的性能要求，那么测试结果处于产品委员会设定的可接受性能阈值范围之内。若 EUT 的性能超出规定的性能要求，则测试结果超出产品委员会设定的可接受性能阈值范围。

附录 J（资料性）可穿戴设备【新增】

对于可穿戴设备的附加实验静电放电（ESD）测试，建议的存储电容和放电电阻分别为 200pF和 50 Ω，以接触放电模式对可穿戴设备的导电部分施加静电放电；以重现腰部佩戴的可穿戴设备所能产生的最严重放电电流状况

附录 K （资料性）试验结果评估【新增】

A）“正常” 运行

通常被视作 “正常” 运行的情况，是指产品按照产品文档中的规格和公差正常运行。静电放电（ESD）往往会致使性能下降，对 EUT 的正常运行产生影响。因此，在评估测试结果时，产品委员会可选择性能标准 B。

B）可接受的性能下降

在静电放电（ESD）测试期间，设备运行允许出现一定程度的性能下降（即超出规格），但前提是设备在测试结束后能够自行恢复至正常运行状态，这类情况通常是被认可的。产品委员会在确定可接受的性能下降阈值时，应充分考虑用户在正常使用设备时的合理预期。举例来说，在静电放电测试期间，若设备变得无法使用，或是完全丧失功能，这通常是不可接受的。以下列举一些具体例子：

显示屏：显示屏一般采用非导电材料封装，故而需进行空气放电测试。静电放电空气放电测试可能导致显示屏亮度显著降低或出现抖动现象。此时，可以通过设定一个阈值来判断，即允许显示屏亮度降低到一定程度，同时抖动处于可接受范围内，且仍能够清晰识别显示的重要信息。例如，若出现 “黑屏” 情况，则可能超出了可接受的阈值。

数字电路：静电放电（ESD）测试可能致使同步电路中断。对此，可以设定这样一个阈值：在静电放电事件发生后，当 “正常” 数据传输能够恢复时，受影响的数据传输的错误率在一定范围内。比如，可规定错误率不超过某个具体数值，若超出该数值，则表明超出了可接受的范围。

C）操作中断与设备恢复

这种情况通常被认可为：在操作中断时，设备不会损坏，必要时允许操作人员进行干预以恢复运行。不过，该性能标准一般不适用于评估 ESD 测试结果。

立即咨询获取报价

欧盟 REACH 与 RoHS 与 CE 认证：核心区别、重叠点及合规策略

【EMC标准】GB 4824-2025《工业、科学和医疗设备射频骚扰特性限值和测量方法》深度解析